【知財】単一性の要件及びシフト補正等の審査基準改訂案について

2013.6.27|
お知らせ

特許庁にて、「発明の単一性の要件」及び「発明の特別な技術的特徴を変更する補正」の審査基準改訂案について、パブリックコメント手続が実施され、その結果が特許庁にアップされました。詳しくは特許庁ホームページをご覧ください。

特許庁では、その結果を踏まえて、以下の予定で改訂審査基準を適用するようです。

・「発明の単一性の要件」の改訂審査基準
⇒平成16年1月1日以降の出願に対して、平成25年7月1日以降の審査に適用。
・「発明の特別な技術的特徴を変更する補正」の改訂審査基準
⇒平成19年4月1日以降の出願に対して、平成25年7月1日以降の審査に適用。

何れの項目においても、平成25年7月1日から審査方法が大きく変わりますので、実務者は十分に注意する必要があります。改訂案を見る限りでは、単一性の要件、及びシフト補正に関しては、現状よりかなり緩くなった印象を受けますが、実際の出願時又は拒絶対応時において、今回新たに設けられたルールの適用となるかならないかの判断は難しい場面が出てくるものと思われます。

◆今回の改訂案のポイントは主に以下の2点です。

1.「発明の単一性の要件」の審査基準について
(1)特別な技術的特徴(STF)に基づく審査対象の決定

特許請求の範囲の最初に記載された発明又はその発明特定事項を全て含む同一カテゴリーの発明のうち最初の一系列(※)の発明について特別な技術的特徴(STF)の有無を判断し、「STFを発見するまでにSTFの有無を判断した発明」及び「最初に発見されたSTFと同一の又は対応するSTFを有する発明」を、審査対象とする。

(※)請求項の番号の最も小さい請求項に係る発明を順次選択して形成される系列を、便宜上「最初の一系列」という。

(2)審査の効率性に基づく審査対象の決定
(1)において審査対象とした発明とまとめて審査を行うことが効率的である発明については、審査対象に加える。

2.「発明の特別な技術的特徴を変更する補正」の審査基準について
補正後の特許請求の範囲が補正前の特許請求の範囲に続けて記載されていたと仮定したときに、改訂後の「発明の単一性の要件」の審査基準によって審査対象となる補正後の発明については、特許法第17条の2第4項の要件を問わない。